芯片检测自动化,岛津X光透视显神威
近日,持续的中美贸易战之下,华为面临美国全面打压封锁,或面临无芯片可用的局面,芯片技术再次成为舆论焦点。芯片在电子产品上应用范围甚广,中国若能成功研制出高性能的国产芯片,将为中国高端制造业的发展奠定扎实的基础。焊球阵列封装 (BGA)作为一种高集成的芯片封装形式,在封装体基板的底部制作阵列焊球作为电路I/O端与PCB板互接,但若BGA存在焊点缺陷将严重影响封装器件性能。
岛津应对方案微焦点X射线检查装置
岛津SMX-1000Plus微焦点X射线检查装置,有图像采集编程功能(步进功能和教学功能)和自动判断软件。可用于电路板和电子元器件的缺陷检查。由于可以获得实时的X光透视图像而不会损坏被检查的样品,因此通过X射线可快速检测出有缺陷的元件和焊接缺陷。
SMX-1000 Plus微焦点X射线检查装置特色
操作界面简洁,增大的透视图像和外观导航图像提高了图像的易读性
可配备自动判断软件,自动检查,一键操作,得到测量结果
非破坏性方式,在高放大倍数下,透视检查基板及电子零部件细微的内部缺陷
使用寿命长,X射线管和平板检测器经久耐用
SMX-1000 PlusX射线自动判断软件
对线路板检查中的必检项目BGA气泡率和调节IC等焊料的面积比率做检测,载物台上的样品按预先设置好的检查位置和检查条件,进行连续自动检测,并通过设定的评判标准自动判断,得出评断结果。
操作流程简单
系统通过样品上方拍摄的外观图像对不合格品做标记,无须做复杂的参数设置,即可轻松判别。
切换程序简便
离线X射线装置和自动检测软件的组合,使得程序切换简便。
(责任编辑:金利仪器lyh)